テストソリューション『PCR』
ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えない半導体テストソリューション！
『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。 【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
基本情報
【検査ソケットに対する主な要求事項】 ■2015 ・ピッチ：0.3mm ・インダクタンス：0.15nH ・荷重値：15gf/pin ・コンタクト抵抗：100mΩ ■2017 ・ピッチ：0.25mm ・インダクタンス：0.1nH以下 ・荷重値：10gf/pin ・コンタクト抵抗：100mΩ ■2019 ・ピッチ：0.2mm ・インダクタンス：0.1nH以下 ・荷重値：10gf/pin ・コンタクト抵抗：100mΩ ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
