システムレベルテスト(SLT)向けソケット
短距離接続の利点を生かし、実装状態に近い状態の特性検証が可能です。
基本情報
・対応Pitch:1.27~0.25ミリ *各pitch毎に対応可能な電極長・磁極径は異なります。 ・対応grid数:100x100(目安) *各pitchにより対応可能なgrid数は異なります。 ・対応サイズ:100x100ミリ(電極エリア/目安) *各pitchにより対応可能サイズは異なります。 ・使用温度範囲:標準タイプ/-40~125℃、ワイドレンジタイプ/-55~150℃
価格帯
納期
用途/実績例
・最終選別テスト(ハンドラー) ・システムレベルテスト/SLT ・高周波検証評価 ・設計検証評価 ・信頼性評価 ・デバック検証 ・基板間接続(短距離接続コネクター、半田実装置き換え)/BtoB ・バーンインテスト