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ゼーマン補正原子吸光分析装置 ZEEnitシリーズ

第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に!

最適な補正を行えるように磁場強度は最大1.0テスラまで可変設定できます。また、従来のゼーマン補正(2フィールドモード; オン、オフ)だけでなく、3フィールドモード(オフ、中、高磁場)が可能になり、測定濃度範囲をmg/Lオーダーまで拡大し、アプリケーション領域が飛躍的に拡充されました。 【特長】 ■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上 ■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能 ■D2バックグラウンド補正、第三世代のゼーマンバックグラウンド補正 ■コード化ランプのためのRFIDツール搭載 ■液体試料だけでなく、固体試料の直接測定が可能 ■独自の交差加熱型グラファイトファーネスが理想的な原子化を実現 ■最適な原子化と灰化温度、2フィールド/3フィールドバックグラウンド補正が理想的な測定を実現 ■検量線の直線性領域を拡張する独自の可変磁場3フィールドモード ■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ ■最適なフレーム測定を約束するバーナー高さ自動調整機能

関連リンク - https://www.analytik-jena.co.jp/jp/analytical-inst…

基本情報

■ランプ:ホロカソードランプ8本  ■測光方式:ダブルビーム光学系  ■波長範囲:185~900 nm  ■バックグラウンド補正:磁場強度可変交流ゼーマン補正またはD2補正

価格情報

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納期

型番・ブランド名

ZEEnitシリーズ

用途/実績例

詳細は、お問い合わせ下さい。

ラインアップ(2)

型番 概要
ZEEnit 700 P フレーム・ファーネス両用機 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置を使用した水素化物分析。固体サンプラーによる固体ファーネス分析
ZEEnit 600 P ファーネス分析専用器 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置による水素化物分析。固体サンプラーによるファーネス固体分析。 

ゼーマン補正原子吸光分析装置 ZEEnitシリーズ

製品カタログ

金属材料 Application Brochure

アプリケーションノート

高分子材料 Application Brochure

アプリケーションノート

無機材料(セラミックス編) Application Brochure

アプリケーションノート

フレーム原子吸光分析_業務効率化

技術資料・事例集

取り扱い会社

Analytik Jena GmbH+Co.KG の前身は、1846年カール ツァイス氏によってドイツ イエナ市に創設されたカール ツァイス イエナ社で、Dr.エルンスト アッベが世界最初の分光計を発明し、製造販売を開始したのが化学分析機器事業の始まりです。 1995年、同社の分析機器部門が分離され、Analytik Jena として独立。 その後、数々の革新的技術開発により急速に発展し、世界市場において科学分析機器メーカーとしてグローバルなビジネスを展開しています。

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