薄膜厚測定システム
分光器からソフトウェア、顕微鏡まで組合せ自由な膜厚測定システム。
オプトシリウスがご提案する膜厚測定システムは、オーシャンオプティクス社の分光器、光源、反射プローブ等に、協業メーカーの分光干渉膜厚測定ソフトウェアを組み合わせたオリジナルシステムです。
基本情報
分光器からソフトウェアまで、組み合わせは自由なので、顕微鏡と組み合わせた微細スポットの膜厚測定や、製膜過程のリアルタイム測定など、お客様のニーズにあったセットアップをご提供可能です。 ◎より詳しい掲載内容につきましては、 カタログをご覧頂くか、直接お問い合わせください。
価格情報
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納期
用途／実績例
【特長】 ●リアルタイム測定 ●簡単な構成からカスタマイズまで、柔軟なシステムアップ可能 ●非接触でサンプルを傷つけない ●高いコストパフォーマンス
