OLEDパネルモジュール 寿命評価ソリューション
パネルモジュール内任意の微小エリアを2D分光計測！
当社では、2D分光輝度計測による複数のサブピクセルを一括測定・ 評価・判定するOLEDパネルモジュール寿命評価ソリューションを 提供しております。 発光素子毎、発光素子内の輝度・色度・分光ムラを測定し、 信号発生パターン・測定ステップ・判定項目を簡単設定。 また、各種表示パターン毎の焼付き評価をサブピクセルレベルで 実現しています。 【特長】 ■2D分光輝度計＋工業用顕微鏡による「顕微分光計測」 ■サブピクセルレベルでの、光学特性評価・焼付き評価 ■複数台のパネルモジュールを長時間・一括・自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【検査項目】 ■サブピクセル毎の光学特性経時変化 ■サブピクセル内の光学特性経時変化 ■焼付き評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
