1.6Tビットエラーレートテスタ『B3224』

PAM4/NRZ信号に対応し1.6TBASE/CEI-224G規格をカバー！

最終更新日 2026年04月01日

シリコンフォトニクスウェーハテストシステム『SWT5100』

8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム！

最終更新日 2026年04月01日

ウェハ受入(WAT)並列パラメトリックテスタ『PPT8200』

Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50％以上高いスループットを実現！

最終更新日 2026年04月01日