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コンデンサ温度特性評価システム(誘電特性評価)

温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメーターを自動収録

高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温(高湿)試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。絶縁破壊により漏れ電流発生の表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。

関連リンク - https://www.espec.co.jp/products/measure-semicon/c…

基本情報

■高温、高温高湿下でコンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することができます。 ■最大300チャンネルまで増設できます。 ■絶縁抵抗を2.0×10E+05 ~1.0×10E+13の範囲で測定することができます。(100V印加時) ■25チャンネル単位で試験条件を設定することができます。 ■恒温槽の温度・湿度、故障発生数、区間故障率をリアルタイムに表示、確認できます。 ■故障発生件数のヒストグラム、故障率曲線および累積ハザードによるデータ解析により絶縁劣化特性を評価できます。 ■ボード実装タイプ、コンタクトプローブタイプなど、各種のコンデンサ搭載治具に対応します。

価格帯

納期

用途/実績例

※別途ご案内申し上げます。

コンデンサ温度特性評価システム(誘電特性評価システム)

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