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JIS K 7374　写像性測定器『ICM-2』

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JIS K 7374　写像性測定器『ICM-2』

透過も反射もこれ一台、写像性をすばやく測定。長寿命のVI-LED光源

『ICM-2』は、塗装面などの物体の表面に写る像の写り具合や、透明 フィルム・プラスチック等を透過して見ることのできる像の鮮明度を 測定する写像性測定器です。 1台で透過測定、反射測定(45°、60°)の3条件に対応。試料台と 受光器の位置と角度を、簡便かつ正確に切り替えることができます。 また、パソコン用の専用ソフト(Windows11対応)で測定器の操作や 測定結果の表示などが可能です。 【特長】 ■測定時間を大幅に短縮(PAT.) ■透過・反射兼用 ■長寿命のVI-LED光源 ■パソコンから操作 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - https://www.hayasaka-rikoh.co.jp/

基本情報

【仕様(抜粋)】 ■光源スリット：0.03±0.01mm ■光学くし幅：0.125、0.25、0.5、1.0、2.0mm ■測定孔径：φ25mm ■計測部：ノートパソコン(計測用ソフトウェア付属) ■光源：VI-LED ■質量：約35kg 【対応規格】 ISO 17221、ISO 20266 JIS K 7374 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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写像性測定器『ICM-2』

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早坂理工は、1947年の創業以来、商社でありながら技術力をもった考動集団として、 日本のものづくり、科学技術の発展に貢献して参りました これからも、つねに最適な「はかる技術」で演出する考動集団として社会に貢献することを 使命とし、時々刻々と変化する状況に対応しながら、 科学技術立国日本の成長をお手伝いして参ります。

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