『蛍光X線式膜厚測定器』 非常に小さな部品や構造部分を非破壊で測定
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い
エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。
特に、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・
素材分析できるように開発されました。
半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。
ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。
