蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』
お客様に合わせたカスタマイズが可能！クリーンルーム環境にも適用します！
基本情報
【仕様(抜粋)】 ■ウェハー供給部：BOLTS互換のロードポート搭載し、様々なSEMI規格のウェハーポッドに適用 ■ロボット：信頼性の高い4軸、サーボ駆動 ■エンドエフェクタ：標準吸引式エンドエフェクタ ■位置決め：回転軸およびリニア軸によるアライメントステーション ■X線検出器：シリコンドリフト検出器（SDD） ■X線管球：マイクロフォーカスチューブ ■プライマリフィルター：4種類 ■X線集光：ポリキャピラリ― ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途例】 ■ナノスケールのUBMメッキ ■C4ハンダバンプ ■極小ランディングパッドや2.5D/3Dパッケージソリューション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（4）
-
メッキやPCB産業向けのハンディー型膜厚計
ＩＳＯ２１９６８準拠の渦電流位相式のハンディタイプ膜厚計です。プローブが皮膜に完全に密着している必要がなく、表面の粗い膜、小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています。 またパシベーション膜があっても、非破壊で銅膜厚を直接測ることができます。 特別な専用プローブを使用することで、鉄上のニッケルの膜厚測定、鉄上の亜鉛または銅の測定（粗い面や複雑な表面形状にも適している）にも対応します。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。
-
『膜厚測定器』 ポケットサイズの小型膜厚計
電磁式と渦電流式の両方式を搭載しており、鉄上あるいは非鉄金属上の様々な皮膜の厚みを測定できます。 プローブ一体型で、簡単に高精度に測定できます。 ポケットサイズで持ち運びに便利！プローブ内蔵型と80cmのケーブルプローブタイプの2種類ございます！ 上下限値の設定が可能で、設定しておいた範囲を外れた際に光と音で分かりやすく警告お知らせします。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。
-
『蛍光X線式膜厚測定器』 非常に小さな部品や構造部分を非破壊で測定
『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 特に、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析できるように開発されました。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。
-
『膜厚測定器』 様々な金属を下地とする数多くの皮膜厚を測定
高性能でハンディータイプの膜厚計の『FMPシリーズ』は、電磁式と渦電流式、または両方式搭載しており、鉄上あるいは非鉄金属上の様々な皮膜の厚みを測定できます。 プローブを当てて測定する非破壊式の膜厚計です。 種類豊富な高精度測定プローブと組み合わせて、様々な形状の測定箇所に対応！ ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。
取り扱い会社
FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計、硬さ試験機などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。
