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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器！

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.helmutfischer.jp/product/xrf/xdv-%CE%B…

基本情報

【仕様(抜粋)】 ■電源：AC115VまたはMAC230V 50/60Hz ■消費電力：最大120W ■保護クラス：IP40 ■外寸：幅680x900x高690mm ■重量：約130kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途／実績例

【応用例】 ■エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハーの測定 ■薄膜コーティングの分析　(例)＜0.1pmのAuやPd ■品質管理などにおける自動測定 ■多層膜コーティングの測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

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FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計、硬さ試験機などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。

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