蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適！
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■電動ステージ付き ■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる ■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用 ■高い凡用性 ■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】 ■測定元素範囲：Al(13)～U(92) ■X線検出器：シリコンドリフト検出器(SDD) ■X線管球：マイクロフォーカスチューブ ■プライマリフィルター：6種類 ■本体寸法：660×835×720mm(幅×奥行×高さ) ■測定チャンバー内寸：580×560×145mm(幅×奥行×高さ) ■重量：約140kg ■消費電力：最大120W ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途例】 ■極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ■トレース分析（RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など） ■NiPの組成分析、厚さ測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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この製品に関するニュース（1）
取り扱い会社
FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計、硬さ試験機などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。
