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蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12mmあるため複雑な形状の段差のある 部品の測定ができるようになります。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。。 【特長】 ■ロングディスタンスタイプ ■非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置 ■プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造 ■装置ハウジング側面に開口部を設けており大きな基板にも対応 ■XY軸はモーター駆動式でプログラム可能な測定ステージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.helmutfischer.jp/product/xdv-%ce%bc-ld…

基本情報

基本情報 【仕様(抜粋)】 ■電源:AC100V~240V 50/60Hz ■消費電力:最大120W ■保護クラス:IP40 ■寸法:幅660x奥835x高720mm ■測定チャンバー内寸:幅580x奥560x高145mm ■重量:約135kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途/実績例

【使用目的】 ■プリント回路基板やコネクターなどの複雑形状の小さな部品の測定 ■薄膜の厚さ測定 (例)≦0.1umのAu ■複雑な多層コーティングの分析、膜厚測定 ■オプションにより、大型基板やフレキシブルプリント基板の測定も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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取り扱い会社

FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計、硬さ試験機などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。

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