蛍光X線式測定装置FISCHERSCOPE X-RAY XDLM
FISCHERのFR法により、より簡単に膜厚測定と素材分析が可能！ ※JPCA Show（国際電子回路産業展) に出展します
『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 品質管理・受入検査・生産管理における、薄膜コーティングの膜厚測定や 組成分析に好適。 全ての測定における適切な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 【一般仕様】 ■使用目的：薄膜、微小構造や金属メッキを測定するエネルギー分散型 蛍光X線測定器(EDXRF) ■対象元素：カルシウムCa(20)からウランU(92)まで、オプションWinFTM SUPERにより最大24種類の元素を同時測定 ■デザイン：卓上型装置、上方向にフードが開閉 ■X線照射方向：上から下 当社は2025年6月4日（水）～6日（金）に東京ビッグサイトで開催される 「JPCA Show 2025（国際電子回路産業展) 」に出展いたします。（東４ホール ブース番号：4I-12） 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【X線源/検出器】 ■X線チューブ：マイクロフォーカスチューブ、Be窓 ■管球電圧：30kV、40kV、50kV ■コリメーター：4種類(φ0.1mm、0.2mm、0.05×0.05mm、0.2×0.03mm) ■一次フィルター：3種類(Ni、Al、フィルター無し) ■X線検出器：比例件数管 ■測定距離：0-80mm(Z)で調整可能(独自のDCM法による距離補正機能) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
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取り扱い会社
FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計、硬さ試験機などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。
