分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ
単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった<厚みムラ>が分かるフィルム厚み測定器 誕生
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定
基本情報
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価格帯
納期
型番・ブランド名
SI-T シリーズ
用途/実績例
※詳細はお問い合わせください。
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定
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SI-T シリーズ
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