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OPIE17出展・セミナー開催【蛍光顕微鏡用校正スライド、MEMS近赤外分光センサ,ハイパースペクトルカメラ 他】

ケイエルブイ株式会社

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開催期間:2017年4月19日(水)~21(金) 開催場所:パシフィコ横浜 弊社ブース:I20 <出展製品> 蛍光顕微鏡用 校正スライド https://www.klv.co.jp/product/argo-sim.html 超小型赤外分光センサ【新製品】 https://www.klv.co.jp/product/nr_w.html ハイパースペクトルカメラ https://www.klv.co.jp/product/pika.html スマートフォン連動 ポータブル分光放射照度計 https://www.klv.co.jp/product/lighting_passport_pro.html UV硬化に最適!ハイパワーLED UV照射器 https://www.klv.co.jp/product/superlite_suv-dc.html 他 新製品のデモンストレーションも実施予定です。 また、注目の出展製品のセミナーも行います。 ご来場をお待ちしております。

新製品 近赤外分光センサー
蛍光顕微鏡用 品質管理システム,校正スライド
  • 開催日時 2017年04月19日(水) ~ 2017年04月21日(金)
    10:00 ~ 17:00
  • 会場 パシフィコ横浜
  • 参加費 無料 Webサイトの事前登録で入場無料