導体抵抗評価システム『AMR-U』
はんだ接合部やコネクタ接続部の微小抵抗値を連続して測定！接続部分の信頼性を効率よく評価
『AMR-U』は、独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を 搭載している導体抵抗評価システムです。 低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部の導体部分の 微小抵抗値を連続測定。 コンピュータによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を 実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。 【特長】 ■直流電流計測と交流電流計測の2タイプ ■絶対値判定方法・変化率判定方法の2種の故障判定が可能 ■パソコンでリアルタイム測定、測定中においても、データ編集・閲覧が可能 ■冷熱衝撃装置との連動により試験効率を大幅に向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【評価対象】 ■プリント基板 ■半導体のアンダーフィル ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途(抜粋)】 ■プリント基板スルーホール導体評価 ■はんだ接続性評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
