日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000
光学像からＳＥＭ観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。
基本情報
分解能 ：８nm(条件あり) 写真倍率 ：ｘ１０~100,000（条件あり） 表示倍率 ：ｘ２４~202,168（条件あり） 最大資料寸法： 800ｍｍ径 50ｍｍ高さ 計測機能 ：2点間測定、角度測定、線幅測定 ファイル出力：BMP,TIFF,JPEG,PNG モニター ：24型 排気系 ：完全自動 TMP1台 RP1台 オプション SEM連続自動測定機能「Neo Action]機能 ステージナビゲーションシステム 傾斜回転モーター駆動ホルダー EDS元素分析（JEOL製） 粒子解析ソフトウェア(EDS元素分析オプション） Auコーティング装置（スマートコーター） 『いま見ている光学像』が、ワンクリックで『電子顕微鏡の超高倍率像』に切り替わり、さらに『その場所の成分（元素）』までリアルタイムにわかります。 特に異物解析や不良原因の特定において、これまで外部機関に依頼して数日〜数週間かかっていた結果が、その日のうちに、ご自身のデスクの横で出せるようになります。 クレーム対応のスピードアップと、研究開発のサイクル加速に必ず貢献できます。」
価格情報
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納期
型番・ブランド名
日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000
用途／実績例
添付ファイルに実例を記載しております。 ダウンロードください 1. 自動車・機械・金属加工業界 品質管理部門や生産技術部門での「不良原因の究明」に圧倒的な強みを発揮します。 2. 電子デバイス・半導体業界 製品の小型化に伴う微細な不良の特定や、歩留まり向上のための検査に最適です。 3. 化学・素材（プラスチック・セラミックス・繊維）業界 新素材の開発から、製造工程における品質の安定化まで幅広く利用されます。 4. 食品・医薬品・化粧品業界 消費者の安心・安全に直結する「異物混入」の迅速な解決や、製品の機能性評価に威力を発揮します。 5. 教育・学術研究機関（大学・高専・公設試験場など） 専門家から学生まで、多種多様なサンプルを扱う環境に「手軽さ」がマッチします。
