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日本電子 NEW 卓上電子顕微鏡新製品 JCM7000Plus

9月1日グレードアップ 光学像からSEM観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性

新機能「Live Particle」:粒子のサイズや個数を自動計測することで作業を簡略化 新機能「Live Report」:視野移動をしながらのデータ取得とレポート作成で作業効率アップ 「Zeromag」    :光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」  :観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」:任意の場所を分析できるの3つのスクリーニング機能 「Live 3D」     :SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載  <高真空モード>⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。  <低真空モード>ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。

JCM-7000 NeoScope(TM) 機能を実機で体験できるデモンストレーション案内

基本情報

新型の特徴 1. 入射電圧(加速電圧)20kV対応で分解能アップ(二次電子像:6nm、反射電子像:8nm) 2. 反射電子検出器の改良で像質向上 3. 新機能Live Particleで粒子のサイズや個数を自動計測することで作業を簡略化 4. Live Reportで視野移動をしながらのデータ取得とレポート作成で作業効率アップ 5. シンプルで使いやすいGUIをそのままに、自動化機能を追加し、より直感的で作業を簡単に     オプション SEM連続自動測定機能「Neo Action]機能 ステージナビゲーションシステム 傾斜回転モーター駆動ホルダー EDS元素分析(JEOL製) 粒子解析ソフトウェア(EDS元素分析オプション) Auコーティング装置(スマートコーター)

価格情報

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納期

型番・ブランド名

日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000

用途/実績例

添付ファイルに実例を記載しております。 ダウンロードください 1. 自動車・機械・金属加工業界 品質管理部門や生産技術部門での「不良原因の究明」に圧倒的な強みを発揮します。 2. 電子デバイス・半導体業界 製品の小型化に伴う微細な不良の特定や、歩留まり向上のための検査に最適です。 3. 化学・素材(プラスチック・セラミックス・繊維)業界 新素材の開発から、製造工程における品質の安定化まで幅広く利用されます。 4. 食品・医薬品・化粧品業界 消費者の安心・安全に直結する「異物混入」の迅速な解決や、製品の機能性評価に威力を発揮します。 5. 教育・学術研究機関(大学・高専・公設試験場など) 専門家から学生まで、多種多様なサンプルを扱う環境に「手軽さ」がマッチします。

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