【半導体向け】MXO3オシロスコープ
高速デバッグを加速する新世代オシロスコープ
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、高速な信号解析とデバッグが不可欠です。特に、最新の半導体デバイスは複雑化しており、信号の異常を迅速に特定し、問題を解決することが求められます。MXO3オシロスコープは、業界最高速の波形取込み速度と高分解能により、微細な信号の変化を正確に捉え、デバッグ作業を効率化します。 【活用シーン】 ・高速信号の解析 ・デバッグ作業の効率化 ・製品開発期間の短縮 【導入の効果】 ・高速波形取込みによる異常信号の早期発見 ・高分解能による信号の詳細な解析 ・直感的な操作性による作業効率の向上
基本情報
【特長】 ・100 MHz～1 GHzの帯域幅で卓越した性能を実現 ・450万波形／秒と最大99 %のリアルタイム捕捉を実現する世界最速のオシロスコープ ・最大12ビットADCおよび18ビットHDモードを備えた業界最高のアーキテクチャー ・MSO、発生器、11.6インチ大型ディスプレイを搭載した、シリーズ最小の8チャネルオシロスコープ ・時間と周波数の個別設定を可能にしながら、最大50、000 FFT/sを実現 【当社の強み】 当社は、科学・産業機器や医療機器の技術を基盤としたSIer商社です。お客様のニーズを的確に把握し、最適なシステムを提案・構築することを目指しています。半導体業界の専門知識と豊富な商材を活かし、お客様の課題解決をサポートします。北陸・甲信地域を中心に、迅速なサポート体制を構築しています。
価格情報
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納期
型番・ブランド名
Ｒ＆Ｓ ＭＸＯ３
用途／実績例
電気特性計測 供試体 DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象 EUT (Equipment under test) - 被試験機器 UUT (Unit under test) - 被試験ユニット
