【半導体品質管理向け】JCM7000 卓上電子顕微鏡
光学像からSEM観察、元素分析まで。品質管理を加速。
半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化
基本情報
【特長】 * 光学像とSEM像のシームレスな切り替え「Zeromag」 * 観察しながら分析も可能な「Live Analysis」 * 任意の場所を分析できる「インスタント機能」 * SEM観察中の三次元観察「Live 3D」 * 高真空・低真空モード標準搭載 【当社の強み】 当社は、分析科学機器の販売・保守サービスを提供するSIer商社です。お客様のニーズを的確に把握し、最適なシステムを提案・構築することを目指しています。北陸・甲信地域を中心に、お客様の課題解決をサポートします。
価格情報
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納期
型番・ブランド名
日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000
用途／実績例
添付ファイルに実例を記載しております。 ダウンロードください 1. 自動車・機械・金属加工業界 品質管理部門や生産技術部門での「不良原因の究明」に圧倒的な強みを発揮します。 2. 電子デバイス・半導体業界 製品の小型化に伴う微細な不良の特定や、歩留まり向上のための検査に最適です。 3. 化学・素材（プラスチック・セラミックス・繊維）業界 新素材の開発から、製造工程における品質の安定化まで幅広く利用されます。 4. 食品・医薬品・化粧品業界 消費者の安心・安全に直結する「異物混入」の迅速な解決や、製品の機能性評価に威力を発揮します。 5. 教育・学術研究機関（大学・高専・公設試験場など） 専門家から学生まで、多種多様なサンプルを扱う環境に「手軽さ」がマッチします。
