【電子部品向け】卓上電子顕微鏡JCM7000
光学像からSEM観察、元素分析まで。故障解析を加速。
電子部品業界において、製品の信頼性確保は不可欠です。故障解析では、不良箇所の特定と原因究明が求められます。従来の外部機関への依頼では、時間とコストがかかることが課題でした。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、迅速な解析を可能にします。これにより、不良原因の早期特定と、クレーム対応の迅速化に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の異物解析 ・不良箇所の特定 ・製品の品質管理 ・研究開発における材料分析 【導入の効果】 ・解析時間の短縮 ・コスト削減 ・品質向上 ・研究開発の効率化
基本情報
【特長】 ・光学像とSEM像のシームレスな切り替え「Zeromag」 ・観察しながら分析できる「Live Analysis」 ・任意の場所を分析できる「インスタント機能」 ・SEM観察中に三次元観察が可能「Live 3D」 ・高真空・低真空モード標準搭載 【当社の強み】 当社は、科学・産業機器や医療機器の技術を基盤としたSIer商社です。お客様のニーズを的確に把握し、最適なシステムを提案・構築することを目指しています。北陸・甲信地域を中心に、お客様の課題解決をサポートします。
価格情報
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型番・ブランド名
日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000
用途／実績例
添付ファイルに実例を記載しております。 ダウンロードください 1. 自動車・機械・金属加工業界 品質管理部門や生産技術部門での「不良原因の究明」に圧倒的な強みを発揮します。 2. 電子デバイス・半導体業界 製品の小型化に伴う微細な不良の特定や、歩留まり向上のための検査に最適です。 3. 化学・素材（プラスチック・セラミックス・繊維）業界 新素材の開発から、製造工程における品質の安定化まで幅広く利用されます。 4. 食品・医薬品・化粧品業界 消費者の安心・安全に直結する「異物混入」の迅速な解決や、製品の機能性評価に威力を発揮します。 5. 教育・学術研究機関（大学・高専・公設試験場など） 専門家から学生まで、多種多様なサンプルを扱う環境に「手軽さ」がマッチします。
