エビデント 測定顕微鏡 ＳＭＴ７
光学顕微鏡の観察性能と測定機の高精度計測を融合させた測定顕微鏡です
高剛性・高精度な土台: 測定精度を追求するため、高剛性・高耐震性を備えた「石定盤ベース」の台座を採用しています 。 正方形ステージによる利便性: Y方向のストロークがX方向と同じ長さ（最大$300\text{mm} \times 300\text{mm}$）のため、大型サンプルも向きを変えずに測定でき、時間短縮に繋がります 。 多彩な光学系への対応: 1台で「測定対物レンズ（長作動距離）」と「金属対物レンズ（高倍率・高解像）」の両方が使用可能で、幅広い観察・測定ニーズに対応します 。 革新的な操作性:オペレーションユニット: 調光、焦準、オートフォーカスなどの操作を手元で完結できます 。 ライトマネージャー: 対物レンズの切り換えに連動して、設定した照明の明るさを自動調整します 。 高度な高さ測定支援:フォーカスナビゲータ: 投影された指標を合わせる方式で、目視による個人差（バラツキ）を抑えた高さ測定が可能です 。 オートフォーカス: 微細な対象物にも安定して合焦し、常にピントを合わせ続ける「追従（TRACK）モード」も搭載しています
基本情報
手動モデル（STM7-SF/MF/LF） 電動モデル（STM7-MFA/LFA） ステージ測定範囲最大 300\text{mm} \times 300\text{mm} 最大 300\text{mm} \times 300\text{mm} 最小分解能 $0.1\text{μm}$ 0.1\text{μm} Z軸駆動方式 手動粗微動共軸ハンドル モータ駆動による電動 測定精度 3 + 2L/100 ～3 + 6L/300{μm} 3 + 4L/200 ～ 3 + 6L/300{μm} 観察方法明視野、 暗視野、微分干渉、偏光 明視野、暗視野、微分干渉、偏光
価格情報
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納期
型番・ブランド名
エビデント 測定顕微鏡 ＳＭＴ７
用途／実績例
微細化・精密化が進む製造現場の品質管理や研究開発において活用されます。 大型サンプルの計測: $300\text{mm}$ウエハや大型プリント基板の全体測定 。 微細構造の高さ測定: ボンディングワイヤのような極めて細い対象物の局所フォーカス 。 複雑な形状解析: 半田ボールのR測定や、加工溝の底面測定（XZ平面測定機能） 。 繰り返し測定の自動化: マクロ機能やリプレイ機能を用いた、同一手順でのNG判定・レポート作成 広域・深部の可視化: 画像貼り合わせ（MIA）による広範囲の画像作成、または拡張焦点（EFI）による全域にピントが合った画像作成
