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技術情報「AESによるCu表面変色部の評価(C0451)」他、4件を公開

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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MSTホームページにて、下記分析事例4件を公開しました。 ・ガラス試料のTDS分析(C0378) ・Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価(C0443) ・AESによるCu表面変色部の評価(C0451) ・EGA-MS法による発生ガス分析(B0229) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

関連リンク

ガラス試料のTDS分析(C0378)
赤外線が透過する透明な試料でも昇温脱離ガス分析が可能
Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価(C0443)
フィールドストップ層およびライフタイムキラーのSRA評価
AESによるCu表面変色部の評価(C0451)
SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能
EGA-MS法による発生ガス分析(B0229)
GC/MS:ガスクロマトグラフィー質量分析法
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受託による分析サービスを承ります。お気軽にご相談ください。