2017年06月30日
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価（C0472） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です
詳しいデータはカタログをご覧ください
