株式会社ノイズ研究所(NoiseKen) 公式サイト

DPIイミュニティ試験システム(半導体向けEMC試験)

全てのEMC試験(イミュニティ試験)の工数削減・効率化に!

○ 別の半導体(IC)へ変更する際の判定基準を確立させることで、半導体変更に伴うEMC試験の再実施を省略し工数削減を実現します。 ○ 製品開発のフロントローディングでDPI試験を実施することにより、EMC耐性の高い半導体を選定できEMC対策の工数削減が見込めます。 DPIイミュニティ試験法とは、IEC規格で標準化されている半導体(IC)用のイミュニティ評価方法です。 評価するICを搭載したテストボード上のIC電源にRF妨害電力を直接注入し、イミュニティの耐性を評価する試験です。 試験は、試験周波数毎に試験レベル(電力)を段階的に上げていき、その都度にICの性能確認を実施する必要があります。 また、誤動作発生時にはその誤操作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かります。 ノイズ研究所のDPIイミュニティ試験システムは、試験の実施から誤動作判定までを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力できる画期的な自動化システムです。

DPIイミュニティ試験システム

基本情報

● IEC 62132-4(DPI法)に準拠した試験が行えます。 ● IEC 62132-1のIC パフォーマンスクライテリアに準拠した判定(Class A/C/D1/D2/E)が自動で行えます。 ● 最大10個の判定条件(自動測定判定8個+マスクテスト判定+シリアルデコード判定)を自由に組み合わせて、ICの誤動作判定ができます。 ● 誤動作発生時のICリセット等のために、複数台のDC電源を制御して電源をON/OFFできます。 ● EUT(IC)に合わせて電圧値やリセット時間などを設定できます。 ● マルチスイープ機能で試験時間を大幅に短縮できます。 ● TEM-Cell法(IEC 62132-2)、 ICストリップライン法(IEC 62132-8)の試験もできます。

価格帯

納期

用途/実績例

〇 別の半導体(IC)へ変更する際の判定基準を確立させ、 PCN(製品変更通知)時における試験の工数削減 〇 完成品に対しての試験の前に、誤動作の主要因となりうる半導体(IC) を予め評価し、フロントローディングによるEMC対策の工数削減

詳細情報

取り扱い会社

EMC試験にかかわる各種試験器の製造・販売のみならず、 ご購入後の修理・校正や受託試験サイトの運営およびリースのご案内など、試験器をトータルでお使いいただく方法をご提案しております。 当社はコンピュータが黎明期にあった1975年、国内で唯一『コンピュータ機器の誤動作をシミュレートする為の電気的な雑音発生器(ノイズ試験器=EMC試験器)』専業のメーカーとして発足致しました。 以来、お客様の製品の品質向上に寄与すべく電気的ノイズの再現に対する要望を正面から受け止めるとともにお客様のアイデアも頂戴しながら、ESD試験器やインパルス試験器、雷サージ試験器、車載電子機器用各種試験器、システムなどの新製品および受託試験サイト『テストラボ船橋』などの新サービスをご提供しつづけ、現在では世界47ヶ国5,000社を超えるお客様に『NoiseKen』ブランドの試験器・サービスを採用いただくに至りました。 これまでの『NoiseKen』ブランド確立の歴史と到達点を踏まえ、これからもEMCに携わる方々のご期待とご要望にお応えする活動を展開し、多くのみなさまからより高い評価を頂ける『NoiseKen』を創造しつづけます。

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