株式会社ノイズ研究所（NoiseKen） 公式サイト

近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。 低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。(車載機器向けの高周波帯の場合は、広帯域スリーブアンテナにて電界を発生させます。)

【民生・産業機器向け試験】 ● IEC 61000-4-39規格に準拠 ■ 概略仕様（磁界イミュニティ） 　周波数範囲：9kHz ～ 150kHz ／ 150kHz ～ 26MHz 　試験レベル：30 A/m ／ 3 A/m 　変調方式：AM 1 kHz 80%, パルス 2 Hz or 1 kHz (デューティーサイクル : 50 %) ■ 概略仕様（RFイミュニティ） 　周波数範囲：380 MHz ～ 6 GHz 　試験レベル：300 V/m 　変調方式：パルス 2 Hz、 217 Hz、 1 kHz (デューティーサイクル : 50 %) 【自動車、車載機器向け試験】 ● ISO11452-9規格、各自動車メーカーに準拠 ■ 概略仕様（RFイミュニティ） 　周波数：26MHz ～ 6GHz 　最大入力電力：20W(試験システムに依存) 　変調方式(例)：CW, AM 1kHz 80%, PULSE(50Hz, 217Hz,1600Hz Duty=50%), LTE / IEE.801.11.a / AWG / g(OFDM) / AWGN(ホワイトノイズ)など

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