形態観察・異物分析
問題解決のために分析専門技術者が誠意を持ってサポート！
当社で行っている「形態観察・異物分析」についてご紹介いたします。 独自のマイクロサンプリング手法を用いた有機物及び無機物の微小異物分析、 SEMや顕微FTIRなどを用いた多層成形品(フィルムなど)の層構成観察などを 実施します。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM)、レーザー顕微鏡(LM)、走査プローブ顕微鏡(SPM) による形態観察、表面計測 ■多様な染色技術を駆使した透過型電子顕微鏡(TEM)による結晶構造、 ポリマーアロイなどのモルフォロジー観察 ■独自のマイクロサンプリング手法を用いた有機物及び無機物の微小異物分析 ■SEMや顕微FTIRなどを用いた多層成形品(フィルムなど)の層構成観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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