DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト
シグナルインテグリティー条件の解析に要する時間を大幅に短縮！
コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダム・アクセス・ メモリ（DRAM）信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルが 仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。 アイダイアグラム・テストを利用してシグナルインテグリティー条件の 解析に要する時間を大幅に短縮することで、信号品質をすばやく 検査することができます。 以下のような課題を『DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト』 により解決します。 【課題】 ■シグナルインテグリティーの問題をすばやくデバッグできる柔軟性がない ■リード／ライトの分離が必要 ■シンプルなマスクに基づいてテストを行うためのデータバースト内での 連続ビットの重ね合わせ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【概要】 DRAMのDDR3インタフェーステストでは、コンプライアンステストで JEDEC規格に対する相互運用性を評価することができます。 シグナルインテグリティーの問題のデバッグを行う際には、解析作業を 円滑に進めるため、マスクテスト、アイダイアグラム・ツール、 リード／ライト分離などの機能やツールが必要です。 そのため、「R&S RTx-K91」オプションには、DDR3テスト用に必要な すべてのコンプライアンス機能とデバッグ機能が揃っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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ローデ・シュワルツ社は、1933年、ドイツ・ミュンヘンで Dr. Lothar RohdeとDr. Hermann Schwarzによって設立されました。 テクノロジー分野のパイオニア設立電子計測、技術システム、ネットワークおよびサイバーセキュリティの 各部門を通じ、より安全に “つながる” 社会の実現を目指しています。 ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社は、2003年にローデ・シュワルツ社の完全な独立会社として発足し、 自動車、ワイヤレスコミュニケーション、エレクトロニクス、航空防衛など多岐にわたる分野で、 日本国内の製品販売およびサービス・サポートを行っています。