【半導体向け】クイントソニックTによる薄膜測定
半導体製造における薄膜の膜厚測定をサポート
半導体業界では、製品の品質管理において、薄膜の正確な膜厚測定が不可欠です。薄膜の厚さは、デバイスの性能に直接影響するため、正確な測定と管理が求められます。膜厚のばらつきは、歩留まりの低下や製品の不良につながる可能性があります。クイントソニックTは、非破壊で最大8層までの膜厚を測定し、半導体製造における品質管理を支援します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハ上の薄膜測定 ・コーティング膜厚の測定 ・薄膜デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・非破壊測定による検査時間の短縮 ・最大8層までの膜厚測定による多層膜の管理 ・EXCEL形式でのデータ出力とPDFレポート作成によるデータ管理の効率化
基本情報
【特長】 ・プラスチック・金属・木材・ガラス・セラミック素地上の塗料・ラッカー・プラスチック層の膜厚を測定 ・非破壊で一度に最大8層までの膜厚を測定 ・GFRPやCFRP等の繊維強化プラスチック上のコーティング厚も測定可能 ・計測データはEXCEL形式で出力でき、PDF形式のレポートも作成可能 ・ユーザーフレンドリーな操作画面 【当社の強み】 サンコウ電子研究所は、高精度と高信頼性、プロフェッショナルユースに耐えるハードウエア、操作性優先の設計思想、豊富な経験とノウハウによるトータルなサポート体制により、品質管理業務を強力にバックアップします。
価格帯
納期
型番・ブランド名
超音波式膜厚計 クイントソニックT
用途／実績例
【用途】 ■プラスチック・金属・木材・ガラス・セラミック素地上
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取り扱い会社
サンコウ電子研究所の測定器・検査機器は、 ◎高精度と高信頼性 ◎厳しいプロフェッショナルユースに耐えるハードウエア ◎使う人の立場になって考えた操作性優先の設計思想 ◎豊富な経験とノウハウによるトータルなサポート体制 など数多くのメリットにより品質管理業務を強力にバックアップします。