白色光干渉計 IMS5400-TH
サブマイクロメートル精度で安定した厚み測定を行うための白色光干渉計です
基本情報
(仕様) レンジ : 0.035～1.4mm ※ただし、センサから45mm±3.5mmの範囲にターゲットがあること 出力 : アナログ : 4-20 mA、0-10 V デジタル : RS422/EtherCAT/Ethernet 分解能 : ＜1nm 精度 : < ±100 nm 応答性 : 100 Hz～6 kHz 温度 : 5～70 ℃ 測定体 : 薄い層、ガラス、フィルムなど
価格帯
納期
用途／実績例
距離変動や振動している計測対象のナノメートル精度の厚み測定 反射防止コーティングされたガラスも安定して計測可能
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取り扱い会社
電子部品・センサの輸入商社として50年、三協インタナショナルは常にお客さまのニーズに合った製品を追求し、供給してまいりました。安心して使っていただけますよう、アフターケアを充実し、ますますお客様に信頼していただけますようさらに努力して参ります。
