PIC(光集積回路)テストソリューション
測定したい光集積回路をカスタマイズ！スペクトル分析や、機能テストにも活用できる
当社では「PIC(光集積回路)テストソリューション」をご提供しております。 パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路(PIC：Photonic Integrated Circuit)毎に適切な構成を都度カスタマイズして ご利用いただけます。 【特長】 ■パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ(ダイ)、 AWG、トランシーバー(伝送、BER)など幅広い光集積回路を、ウェハー レベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■光集積回路(PIC)の特性テスト(IL、RL、PDL) ■スペクトル分析(波長、光パワー、OSNR等) ■機能テスト(BERT、アイダイアグラム測定等) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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取り扱い会社
弊社の強みは、その製品や市場性を理解し、ハード製品の流通・提供だけでなく先を見据えたトータル・ソリューションでのご提案ができるところにあります。 問題解決・提案型の営業を基軸とし、新たな価値をお客様と一緒に創造していくことを目指しています。
