ビットエラーレートテスター(BERT)『BA-4000』
生成信号の高品質なアイパターン！RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用
『BA-4000』は、800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の 対応デバイス(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に適切な、 ビットエラーレートテスターです。 400GbE/800GbE等のPAM4変調を適用した高速伝送規格では、伝送品質を 確保するためにFEC(前方誤り訂正)を使用することが定められており、 伝送品質評価においても、FECによるエラー訂正を含めた評価が必要。 当製品のFECシミュレーション機能は、バーストエラーに対する様々な 分析機能を提供します。 【特長】 ■800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート (～56GBd,NRZ/PAM4,～8チャネル) ■バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能 ■生成信号の高品質なアイパターン ■RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用 ■PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q,SSPRQをサポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【FECシミュレーション機能】 ■PRBSエラーチェック及び訂正 ■Pre-FEC及びpost-FEC BER ■KP4/KR4及び低遅延FECプロトコル ■FEC lane striping 機能 ■FECシンボルエラー分布表示：codewords vs.シンボルエラー ■FECマージン自動計算 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■光トランシーバ、OSA(Optical Sub Assembly)の試験、評価 ■FPGA、MCB(Module Compliance Board)、HCB(Host Compliance Board)の試験、評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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