ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン
簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装置。防振台不要でラインでの全数検査も可能。
基本情報
計測方式：光ヘテロダイン干渉計測 高さ分解能：０．1ｎｍ 基準高さ計測範囲：０．５～３００ｎｍ 基準計測範囲：X軸４５ｍｍ Y軸４５ｍｍ 粗さ Ra：０．１～５０ｎｍ、段差１～１５０ｎｍ スクラッチ、形状等 本体寸法：W３１３ｘD６１４ｘH４２８ｍｍ、重量２７Ｋｇ
価格帯
500万円 ~ 1000万円
納期
応相談
2-3ケ月
型番・ブランド名
ナノセブン TN-A1
用途／実績例
エレクトロニクス、半導体、自動車、マイクロテクノロジー、フィルム 精密工学、医療分野、データストレージ、セラミック・・・・
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取り扱い会社
欧米の先端技術に基づく材料の分析評価機器やセンサーシステムを国内市場に紹介することで、様々な分野での研究開発に貢献致します。 また、お客様の幅広いニーズに対応すべく、柔軟かつ確実な技術サポートを提供してまいります。 些細なことでも、まずはお気軽にご相談下さい。
