高分子式露点計 EE371
薄膜技術と自動校正システムにより高精度な露点測定ができ、360°回転式のネジで、取付時の微調整が可能な露点計。
基本情報
型 式:EE371 〈露点仕様〉 測定範囲:-60~+60 ℃dp 精 度:±2 ℃dp 90%応答速度:80秒 (-20 ℃Td → -40 ℃Td) 10秒 (-40 ℃Td → -20 ℃Td) 〈ppm仕様〉 測定範囲:20~200,000 ppm 精 度:±(5 ppm+指示値の9 %) ppm (環境温度20 ℃、圧力1013 mbarにおいて) 〈出力仕様〉 アナログ出力(露点/霜点/体積濃度):0-10 VDC -1 mA < IL < 1 mA 4-20 mA RL < 500 Ω 1) RL=負荷抵抗 〈一般仕様〉 供給電圧:15 - 30 VDC 消費電流(24 VDCにて):電圧出力:約40 mA / 自動校正時100 mA 電流出力:約80 mA / 自動校正時140 mA 耐圧力範囲:0~2 MPa / 0~10 MPa (オプション) 動作温度:プローブ:-40~+70 ℃ 本体:-40~+60 ℃ 表示部:-20~+50 ℃ 保管温湿度:-40~+60 ℃
価格帯
納期
型番・ブランド名
EE371
用途/実績例
● 圧縮空気の露点管理 ● 工業炉内の水分管理 ● 冷凍式ドライヤー ● 吸着式ドライヤー ● プラスチック原料乾燥ドライヤー 他多岐にわたる