【半導体向け】MBW573 鏡面冷却式露点計
高精度計測で半導体製造の清浄度管理をサポート
半導体製造業界では、製品の品質を維持するために、製造環境の清浄度管理が重要です。特に、微細な水分や不純物は、製品の歩留まりを低下させる可能性があります。MBW573は、高精度な露点計測により、製造プロセスにおける水分管理を支援し、製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・クリーンルーム内の露点監視 ・製造プロセスにおける乾燥空気の露点管理 ・ガス供給ラインの水分モニタリング 【導入の効果】 ・高精度な露点計測による品質管理の強化 ・製品不良のリスク低減 ・製造プロセスの最適化
基本情報
【特長】 ・露点測定範囲：-40 ～ +95 ℃dp (機種による) ・ヒーター内蔵 ・ポンプ、流量計、圧力センサー内蔵により、すぐに計測を開始可能 ・精度（露点・霜点）：±0.1 ℃ ・アナログ出力、デジタル出力に対応 【当社の強み】 国産露点計メーカーとして、お客様のニーズに合わせた製品を提供しています。露点計の販売だけでなく、校正・点検・修理サービスも行っており、製品導入後も安心してご利用いただけます。
価格帯
納期
型番・ブランド名
MBW573
用途／実績例
● ブロアー手前での露点管理 ● 工業炉内での水分管理 ● 燃料電池の性能評価試験 他多岐にわたる
