【半導体向け】高分子式露点計 TE-660TR
-60 ℃dpまでの低露点範囲を測定可能。清浄度管理に貢献。
半導体製造業界では、製品の品質を左右する清浄度管理が非常に重要です。特に、製造プロセスにおける微量な水分は、製品の歩留まりを低下させる原因となります。高分子式露点計 TE-660TRは、-60 ℃dpまでの低露点範囲を測定し、高精度な水分管理を実現することで、半導体製造における品質向上に貢献します。 【活用シーン】 * クリーンルーム内の露点管理 * 製造プロセスにおける乾燥空気の露点監視 * 半導体製造装置への組み込み 【導入の効果】 * 製品の歩留まり向上 * 品質管理の効率化 * 製造コストの削減
基本情報
【特長】 * 高応答速 * 自動校正機能 * 露点、霜点、ppmから測定値を選択可能 * アナログ出力とデジタル出力に対応 * 自動校正（ケミカルパージ機能） 【当社の強み】 国産露点計メーカーとして、お客様のニーズに合わせた製品を提供しています。露点計の販売だけでなく、校正・点検・修理サービスも行っており、お客様の水分管理をトータルでサポートします。
価格帯
納期
型番・ブランド名
TE-660TR
用途／実績例
● ドライエアー露点管理 ● 工業炉内の水分管理 ● ガス発生装置の純度管理 他多岐にわたる
