【電子部品向け】高分子式露点計 TE-660TR
-60 ℃dpまでの低露点範囲を測定可能で自動校正機能付き。絶縁性を守ります。
電子部品業界において、絶縁性は製品の信頼性を左右する重要な要素です。水分は絶縁性を低下させ、部品の性能劣化や故障を引き起こす可能性があります。特に、高密度実装が進む現代の電子部品においては、微小な水分量も厳密に管理する必要があります。高分子式露点計 TE-660TRは、-60 ℃dpまでの低露点範囲を測定し、自動校正機能により正確な水分管理を実現します。これにより、電子部品の絶縁性を確保し、製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 * 半導体製造工程 * 電子部品の保管環境 * クリーンルーム環境 【導入の効果】 * 製品の信頼性向上 * 不良率の低減 * 品質管理の効率化
基本情報
【特長】 * 高応答速 * 自動校正機能 * 露点、霜点、ppmから測定値を選択可能 * アナログ出力4～20mA または デジタル出力ModbusRTU * 自動校正（ケミカルパージ機能） 【当社の強み】 国産露点計メーカーとして、お客様のニーズに合わせた製品を提供しています。露点計TK-100シリーズをはじめ、様々な計測器・装置を組み合わせたオーダーメイド製品の提供も可能です。複雑な問題にも迅速に対応し、お客様の水分管理をサポートします。
価格帯
納期
型番・ブランド名
TE-660TR
用途／実績例
● ドライエアー露点管理 ● 工業炉内の水分管理 ● ガス発生装置の純度管理 他多岐にわたる
