【半導体向け】TEKHNEPort40-LDPTによる清浄度管理
高精度な露点測定で、半導体製造の品質管理をサポート
半導体業界では、製造プロセスにおける清浄度の維持が製品の品質を左右する重要な要素です。特に、微細な水分は製品の性能低下や不良品の発生につながる可能性があります。TEKHNEPort 40-LDPTは、高精度な露点測定により、製造環境の水分量を正確に把握し、清浄度管理を支援します。持ち運び可能で、現場での測定に最適です。 【活用シーン】 ・クリーンルーム内の露点測定 ・製造プロセスにおける配管内の露点測定 ・品質管理部門での測定 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・製造プロセスの最適化
基本情報
【特長】 ・持ち運びに便利なコンパクト設計 ・±2 ℃dpの高精度測定 ・-60～＋60 ℃dpの広い露点測定範囲 ・データロギング機能搭載 ・USB-Cインターフェイスによるデータ転送 【当社の強み】 国産露点計メーカーとして、お客様のニーズに合わせた製品を提供しています。露点計の販売だけでなく、校正・点検・修理サービスも行っており、製品導入後も安心してご利用いただけます。
価格帯
納期
型番・ブランド名
TEKHNEPort 40 - LDPT
用途／実績例
● 圧縮空気の露点管理（冷凍式･吸着式ドライヤー、配管中の重要ポイント等） ● グローブボックス簡易測定 ● 熱処理炉（メッキ炉、プラスチック焼成炉等） ● ガス発生装置の純度管理（酸素、窒素、水素発生装置等） ● 恒温槽の露点管理
