【セミナー】半導体・回路素子における劣化寿命の故障モード
テキストには寿命予測事例50を取り込んであり、部品ごとの寿命因子も解説！
当社は、実務で役立つ実践知識習得のための「半導体・回路素子における 劣化寿命の故障モード・構造因子とその予測法～半導体・回路素子の寿命を 考える～」セミナーを開催いたします。 寿命をもつ電子部品の故障モード、電子部品に欠陥を内在した場合の 寿命故障モード、寿命予測の考え方、部品ごとの寿命予測法について、 様々なやり方を実務的・実践的に解説。 テキストは、事例・データを交えて数百ページにおよぶ内容となっており、 事典のような活用が可能です。 【セミナー概要(一部)】 ■日時：2026年1月30日(金)10：00～16：50 ■会場：TH企画セミナルームA ■受講料(消費税込)：49,500円 ■受講資料：PDFテキスト資料(受講料に含む) ※定員に達し次第締切となりますので、お早めにお申込みください。
基本情報
【習得知識】 ■寿命をもつ電子部品とその故障モード ■電子部品に一定の欠陥を内在した場合の寿命故障モード ■寿命予測の考え方 ■部品ごとの寿命予測法 など ※定員に達し次第締切となりますので、お早めにお申込みください。
価格情報
■受講料(消費税込)：1名 49,500円
価格帯
1万円 ~ 10万円
納期
応相談
用途／実績例
※定員に達し次第締切となりますので、お早めにお申込みください。
