東芝情報システム株式会社 公式サイト

【曲面でも見逃さない 微細欠陥検査技術】 光学検査技術

深さ数μmの微小なキズや異物も見逃さない。目視検査に頼っていた欠陥検知を、独自の散乱光検出技術によってワンショットで撮像・検知!

製造現場・外観検査工程でこのような 「微細欠陥検査」 の課題はありませんか? ● 微細なキズなどがカメラに映らず、熟練検査員の目視検査とせざるを得ない ● 作業員ごとの検査品質のばらつき ● 明確な検査エビデンスが残らない ● 少子高齢化による検査員の人手不足                           ▼ ワンショットで“見える化” 微細欠陥可視化 ! 光学検査技術 OneShotBRDF が解決します! 光学検査技術OneShotBRDFとは、光の反射角度を選択する「多波長超同軸開口フィルター」を組み合わせた独自の手法により、欠陥凹凸のわずかな散乱光をワンショットで撮像可能にする技術です。 ――― ポイント ――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ―――――――――――――――――――――――――――――

関連リンク - https://www.tjsys.co.jp/embedded/esb-oneshotbrdf/i…

基本情報

光学検査技術 OneShotBRDFは、熟練検査員による目視検査に頼っていた微細なキズや異物の検知を、 独自の散乱光検出技術によりワンショットで撮像・検知します。 ――― ポイント ―――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ――――――――――――――――――――――――――――― ■ 検査対象物に合わせた3種類の「OneShotBRDF」技術タイプ  TYPE1:光沢・平面素材のキズ検出          → エリアーセンサータイプ  TYPE2:光沢・平面素材(長尺・枚葉もの)のキズ検出 → ラインセンサータイプ  TYPE3:光沢・3D曲面のキズ検出             → アドバンスドエリアセンサータイプ

価格情報

詳細はお問い合わせください

納期

用途/実績例

■表面探傷スコープ [東芝テリー株式会社製] 表面探傷スコープは「OneShotBRDF」を採用した製品です。 フラット面のキズをワンショットで検出するスコープです。 ・フラット面に付いた観測困難な微小傷を可視化 ・多波長同軸開口による散乱光識別で高速検査 ・画像識別困難なキズでも色で識別 ・高解像度USB3カメラ搭載でPC接続が容易

関連動画

おすすめ製品

取り扱い会社

私たちは、エンベデッド、LSI設計の領域で、「長年積み重ねた豊富な経験と実績」、「高い技術力」により、お客様のビジネスに貢献する最適なソリューションを提供してまいります。