基板表面マクロ検査装置『Stealth300Vシリーズ』
基板全面を高感度・高速検査。
基本情報
【仕様】 ■基板サイズ:8inch~12inch Wafer、角基板(小口径基板応相談) ■ロード方式:手動/自動 ■オプション:GEM/GEM300通信、KLARFファイル出力 表面異物検査光学系オプション 裏面キズ検査光学系オプション ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
■業界実績:OLED、マイクロLED、イメージセンサ用カラーフィルタ、マスクブランクス、 ■検査対象基板:シリコン、石英、ガラス、LT/L... ■検査対象:レジスト膜、カラーレジスト膜、PI膜等... ■検出欠陥:ムラ、異物、傷、残渣、デフォーカス、クラック等... ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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