高電圧絶縁信頼性評価装置 『HVUαシリーズ』
数十nsecの高速検出回路を全chに搭載！低ノイズ計測可能なテスター
『HVUαシリーズ』は、J-RAS株式会社製の高電圧絶縁信頼性評価装置です。 数十nsecの高速検出回路を全CHに搭載し、より進化した信頼性試験を実現します。 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出。 CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能です。 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し。 トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現します。 【特長】 ■100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出 ■CH個別電源搭載＆CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加 ■短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従 ■専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能 ■5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他の特徴】 ■5000V の高電圧出力 ■高速検出回路：絶縁劣化の兆候を捉える ■抵抗値データと同時計測も可能 ■CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能 ■機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し ■トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現（計測側） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■HV、EV カー向け部品等の高電圧デバイス・搭載基板の試験に ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
