検査システム『Meister-SPi』
反り補償ソリューション!高度な高解像度光学部品を組み合わせた検査システム
基本情報
【対応可能なパッケージ】 ■ファンアウトパッケージ ■SiP ■フリップチップ ■WLCSP 【仕様】 <精度> ■校正冶具:高さ ±1µm <繰り返し再現性(3α)> ■高さ ・正常基板:0.2µm ・008004バンプ:0.3µm ■面積/体積 ・正常基板:<0.3% 008004バンプ:<4% ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
【用途】 ■生産現場 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。