マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
実装基板の半田検査に最適。斜め方向からの観察も可能。
基本情報
実装基板の半田検査に最適なシステム。フラットパネルセンサの搭載で、歪みのない鮮明な画像が得られます。センサが60度まで傾斜し、斜め方向からの観察が可能です。優れたユーザインタフェースにより簡単で効率的な検査が可能です。
価格情報
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納期
型番・ブランド名
TXV-CH4090FD
用途/実績例
・実装基板の半田検査 ・BGAのボイド計測 ・その他 幅広い用途に使用可能です
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25.4月より会社名変更となりました。[旧:東芝ITコントロールシステム株式会社] 弊社は、国内外の様々な分野で、X線非破壊検査システムの設計、製造、販売、およびサービスを提供しています。車載機器、民生機器、研究機関など、多岐にわたるお客様のニーズに応え、課題解決に取り組んでいます。最新の技術と豊富な経験を活かし、、優れたソリューションを提供することで、お客様の課題解決に応え続けます。