マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
実装基板の半田検査に最適。斜め方向からの観察も可能。
＜仕様＞ ・X線装置：90kV 焦点：5μm ・テーブルサイズ：400×350mm ・傾斜角度：0～60度 ・倍率：10～160倍 ＜特長＞ ・メンテナンスフリーな密閉管型マイクロフォーカスを搭載。 ・画像表現能力が高く、歪みの無い鮮明な画像が得られるフラットパネル型センサを搭載。 ・傾斜撮影により斜め方向から観察可能。また、傾斜撮影時は観察ポイントを逃さない追従機能を装備。 ・BGAボイド計測ソフト搭載。 ・PC画面上ですべて操作できる快適なユーザインタフェース ・設置場所を選ばないコンパクト設計
基本情報
実装基板の半田検査に最適なシステム。フラットパネルセンサの搭載で、歪みのない鮮明な画像が得られます。センサが60度まで傾斜し、斜め方向からの観察が可能です。優れたユーザインタフェースにより簡単で効率的な検査が可能です。
価格情報
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納期
型番・ブランド名
TXV-CH4090FD
用途／実績例
・実装基板の半田検査 ・BGAのボイド計測 ・その他 幅広い用途に使用可能です
カタログ（2）
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取り扱い会社
東芝 I Tコントロールシステム株式会社は、システム制御、ソフトウェア、パワエレ、メカトロ、センサ等の豊富な経験と技術を核にした製品・システムに加えて、I T技術を取り込むことによって、I T系と現場系、すなわちコンピュータ／コミニュケーション／コントロール（Computer／Communication／Control）を融合した柔軟で質の高いソリューションを迅速かつ的確に提供し、I T革命が急速に進む21世紀の社会の中で、お客様の課題の解決に貢献したいと考えております。
