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全数検査対応!UISの超音波探傷システム

全数検査のご希望はありませんか?UISなら自動化ニーズにお応えします。

検査品を水没させた状態で超音波波形データを取得し、非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出します。

関連リンク - https://www.uis-inf.co.jp/urcp/soft/soft01.html

基本情報

超音波波形データを画像化し画像処理技術にて欠陥を検出するシステムです。 画像処理装置、光学機器、検査ソフトウェア、検査装置を組み合わせてのご提案をしております。画像検査に関する全てをお任せください。

価格帯

納期

用途/実績例

検査対象:電子部品(コンデンサ、基板)、半導体、鉄鋼・金属  など 検査内容:ボイド、クラック、電極高さ、内部剥離  など

【大反響セミナー資料】「非破壊」×「全数検査」で素材内部の微細欠陥を検出する 

技術資料・事例集

取り扱い会社

当社は、化学・建設資材・産業機械・エネルギー等の幅広い分野で事業展開しているUBE株式会社の情報システム部門を発展させ、1983年に設立しました。製造業特有の機能であります研究開発・設計・生産・品質等の管理業務はもとより、調達・販売・物流業務や会計・人事等の情報システムの構築・運用において豊富な実績を有しており、その一部はシステム商品(パッケージソフトウェア)として提供しております。

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