1.6Tビットエラーレートテスタ『B3224』
PAM4/NRZ信号に対応し1.6TBASE/CEI-224G規格をカバー！
『B3224』は、物理層の特性評価と一貫性試験のための 高性能ビットエラーレートテスタ(BERT)です。 優れた信号品質、豊富な機能、柔軟な試験モード (統合MCBまたはリモートヘッド)により、高速シリアル 回路製品の研究開発から製造試験まで、強力な性能と 柔軟性を提供します。 データレートは24.33～120 Gbaudに対応。テストパターンは PRBS各種、SSPRQ、JP03A/B、Square Wave、カスタム定義パターンを サポートしています。 【主要仕様(一部)】 ■出力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■出力振幅：800 mVp-p (差動) ■立上り/立下り時間：＜ 4.5 ps ■入力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■クロックモード：内蔵クロックリカバリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【その他の主要仕様】 ■データレート 24.33 ～ 120 Gbaud ■受信感度：150 mVp-p (差動) ■テストパターン：PRBS各種, SSPRQ, JP03A/B, Square Wave, カスタム定義パターン ■コネクタ：MXPD/SMPX ■寸法 (mm)：412 x 441 x 112 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
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当社は高速光/電気計測技術およびwafer/チップレベルのハンドリング技術で CPOやchipletといった先端半導体に適切なテストソリューションを提供する サプライヤーです。 高速信号処理技術、アドバンスハンドリング技術および高精度アナログ信号 処理技術、三つの中核技術を軸に、研究開発や量産工程まで一貫して対応可能な テストソリューションを展開。 私たちはお客様の未来をともに創るテクノロジーパートナーとして、常に一歩先の 価値を提供しております。