株式会社アナリティクイエナ ジャパンの会社ロゴ画像です 株式会社アナリティクイエナ ジャパン 公式サイト

アナリティクイエナ ジャパン 分析機器総合カタログ

ICP-MS、ICP発光分光分析装置、原子吸光分析装置など多数の分析装置をラインナップ!

株式会社アナリティクイエナ ジャパンが取り扱う分析機器の総合カタログです。 ICP-MS、ICP発光分光分析装置、原子吸光分析装置やTOC計、微量元素分析装置、マイクロウェーブ試料分解装置など、幅広い測定に対応し使いやすさと安全性を備えた分析装置を多数ご紹介しています。 【掲載ラインナップ】 ・原子吸光分析装置 ・ICP発光分光分析装置 ・ICP質量分析装置 ・マイクロウェーブ試料分解装置 ・元素分析装置(硫黄/窒素/炭素/塩素) ・全有機体炭素分析装置 TOC計 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

関連リンク - https://www.analytik-jena.co.jp/jp/analytical-inst…

基本情報

【掲載製品】 ・原子吸光分析装置   novAA800 ZEEnit P contrAA 800 ・ICP発光分光分析装置   PlasmaQuant 9100 ・ICP質量分析装置   PlasmaQuant MS ・マイクロウェーブ試料分析装置   speedwave XPERT speedwave ENTRY ・微量元素分析装置(硫黄/窒素/炭素/塩素)   multi EA 5100 ・炭素・硫黄分析装置   multi EA 4000 ・全有機体炭素分析装置 TOC計   multi N/Cシリーズ ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

価格情報

****** お気軽にお問い合わせください。

納期

詳細はお問い合わせください

お気軽にお問い合わせください。

用途/実績例

詳細はお問い合わせください。

アプリケーションノート リチウム鉱石の迅速分析 AAS

技術資料・事例集

アプリケーションノート リチウムイオン電池のブラックマスと 正極材料の分析 ICP-OES

技術資料・事例集

アプリケーションノート リチウム鉱石の分析 ICP-OES

技術資料・事例集

アプリケーションノート リチウムイオン電池用炭酸リチウムの分析 ICP-OES

技術資料・事例集

アプリケーションノート 電子廃棄物中の貴金属分析 ICP-OES

技術資料・事例集

取り扱い会社

Analytik Jena GmbH+Co.KG の前身は、1846年カール ツァイス氏によってドイツ イエナ市に創設されたカール ツァイス イエナ社で、Dr.エルンスト アッベが世界最初の分光計を発明し、製造販売を開始したのが化学分析機器事業の始まりです。 1995年、同社の分析機器部門が分離され、Analytik Jena として独立。 その後、数々の革新的技術開発により急速に発展し、世界市場において科学分析機器メーカーとしてグローバルなビジネスを展開しています。

おすすめ製品