アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部 公式サイト

アンドールシステムサポート(株)は以下日時で開催される2024国際航空宇宙展に出展します。 以下のような展示物

アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 　・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト 　・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション 　ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 　・展示会名：2024 マイクロエレクトロニクスショー 　・開催日時：2024年6月12日(水)～6/14日(金) 10:00～17:00 　・展示会場：東京ビッグサイト 東展示棟 　・小間番号：3B-35

最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 　JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 　LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 　BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 　部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 　各テスト手法が検出可能な故障タイプ 　インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 　基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 　開発現場での活用と開発期間短縮 　製造現場での活用と検査コスト削減 　サービス現場での活用と修理コスト削減