DFP2.0モジュール
お客様の測定アプリケーション（サンプル）にあった測定方法が選択が可能です。
DFPモジュール（AXP）は、シャドウモアレでは測定できなかった、段差のある製品、はんだボール付きPKG・ザグリあり基板などの連続していない平面（アイランド状）のものが測定可能です。 ガントリーフィクスチャーで、測定位置が移動可能（大きなサンプルの特定の位置へ移動可能）。 XY高分解能（高画素190万画素以上）でコネクタホールなどの小さな構造物も測定することが可能（自動マスク処理可能）です。 【仕様】 ○取り付け可能機種 – AXP ○最大FOV（視野角）– 100mm x 100mm ○最大設置可能サンプル – 400mm x 400mm 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本情報
【仕様】 ○最小サンプル – 0.5mm x 0.5mm ○データ密度 ‐ 625pixel/mm2 ○Z軸分解能 – 5 μm ○Z軸測定精度 – ±5 μm ○焦点深さ - ±10mm ○販売開始 2013年4月～ ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
価格情報
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納期
用途／実績例
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
取り扱い会社
プリント基板を始めとして、半導体・ＬＣＤ・ＰＤＰ等主要電子部品の製造装置、検査分析装置の販売を通して日本国内の電子部品メーカー様へ最先端の技術を提供しております。業態は商社ながら「技術を語れる商社」として長年のレジスト塗布経験を活かし、様々な顧客に最適なソリューションをご提供し、これからも日本の電子部品産業に貢献して参ります。
